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LCR數(shù)字電橋使用問(wèn)答

LCR數(shù)字電橋使用問(wèn)答


LCR 數(shù)字電橋使用問(wèn)答
1. 能說(shuō)明一下數(shù)字電橋部份符號(hào)標(biāo)識(shí)的釋義嗎?
答:L:電感;C:電容;R:電阻;
B:電納;D:損耗;G:電導(dǎo);
Q:品質(zhì)因數(shù); X:電抗;Z:阻抗;θ:相位角;
DC:直流;AC:交流;
FREQ:頻率;STORE:存儲(chǔ);RECAL:調(diào)用儀器設(shè)置;
AUTO:自動(dòng);MODE:模式;
SER:等效串聯(lián);PAR:等效并聯(lián)。
2. 不同的測(cè)試頻率對(duì)元器件測(cè)試有影響嗎?
答:有。
3. 測(cè)試電壓不同對(duì)元器件測(cè)試有影響嗎?
答:有。
4. 對(duì)于一個(gè)已知的電容,使用者應(yīng)該選用什么樣的測(cè)試條件?
答:(1)小于 100pF 電容用 1MHz(如果數(shù)字電橋具備這個(gè)檔位的話)頻率測(cè)量;
2)中等容量,如 1000pF-10uF 電容,1kHz10kHz、100kHz 應(yīng)該選擇選哪
一個(gè)檔位,國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試中等電容的測(cè)試頻率標(biāo)準(zhǔn)是 1kHz。電解類,如鋁電
解,鉭電解等用 100Hz 120Hz;
3)從電平的角度來(lái)說(shuō),大部分電容對(duì)測(cè)試電平不敏感,因此,不同電平測(cè)
試變化不大,但有些介電常數(shù)大的電容對(duì)測(cè)試電平非常敏感,故應(yīng)根據(jù)實(shí)際需
要仔細(xì)選擇測(cè)試電平。一些入門級(jí)的數(shù)字電橋沒(méi)有該選項(xiàng),只能使用默認(rèn)測(cè)試
電平進(jìn)行測(cè)試。
LCR數(shù)字電橋使用問(wèn)答
5. 測(cè)試信號(hào)電平是什么意思?
答:施加于被測(cè)元器件上的電平是十分重要的。實(shí)際施加于被測(cè)件上的電平(電
壓或電流)與儀器信號(hào)源阻抗有關(guān),雖然儀器電平相同,若信號(hào)源阻抗不同,
實(shí)際施加于被測(cè)件上的電平就不同。
6. 數(shù)字電橋測(cè)量的準(zhǔn)確度如何?
答:測(cè)量準(zhǔn)確度是反映儀器性能的主要指標(biāo)之一。確切了解所需儀器的準(zhǔn)確度
是準(zhǔn)確評(píng)價(jià)元器件優(yōu)劣的關(guān)鍵。一般來(lái)講,儀器本身的準(zhǔn)確度應(yīng)比測(cè)量元器件
的技術(shù)指標(biāo)要求高。通常,儀器設(shè)備或其宣傳資料給出的參數(shù)是在一定條件下
的*高準(zhǔn)確度,也就是所謂的理論值。
   實(shí)際上,無(wú)論是數(shù)字電橋還是其它設(shè)備,參數(shù)標(biāo)稱值與實(shí)際值均存在或多
或少的差異,這是使用者應(yīng)該清楚并注意的。要想了解被測(cè)量元器件在測(cè)量頻
率下呈現(xiàn)的阻抗、以及對(duì)應(yīng)測(cè)量條件下,測(cè)試儀器的準(zhǔn)確度是否滿足測(cè)量要求,
那么,充分了解儀器的測(cè)量準(zhǔn)確度是極為重要的。
   當(dāng)然,測(cè)試準(zhǔn)確度與所給定的測(cè)試條件密切相關(guān),這一點(diǎn),同樣不能忽視。
須知,即使是相同基本準(zhǔn)確度的儀器,其在不同量值被測(cè)元器件和不同頻率下
其準(zhǔn)確度是有很大區(qū)別的。
7. 什么是損耗?品質(zhì)因數(shù) Q ?
答:D、Q 兩者互為倒數(shù),其計(jì)算方法為被測(cè)元器件的有功功率 PR(電阻器耗能)
與無(wú)功功率 PC(電容器儲(chǔ)能)或 PL(電感器儲(chǔ)能)的比值,對(duì)串聯(lián)和并聯(lián)等效
電路使用下式計(jì)算:=Rs/|Xs|,D=|Xp|/Rp,D Q 的值與等效方式無(wú)關(guān)。
8. 怎樣選擇串聯(lián)和并聯(lián)測(cè)試參數(shù)?
答:(1)電容測(cè)量,可以兩個(gè)不同的測(cè)試頻率下?lián)p耗因子的變化性質(zhì)來(lái)決定,
若頻率升高而損耗增加,則應(yīng)選用串聯(lián)等效電路測(cè)試模試;若頻率升高而損耗
減小,則應(yīng)選用并聯(lián)等效電路測(cè)試模試。
   2)對(duì)于電感來(lái)說(shuō),情況正好與電容相反。實(shí)際中,器件的 D 不可能與頻
率完全成正比關(guān)系,其可能有并聯(lián)成分,也可能有串聯(lián)成分,應(yīng)看何種成分占
主導(dǎo)地位。
   3)根據(jù)元器件的*終使用情況來(lái)判定。如用于信號(hào)耦合電容,則*好選
擇串聯(lián)方式,旁路或并聯(lián)諧振則使用并聯(lián)等效電路。
   4)約定俗成的習(xí)慣是,低阻抗元件用串聯(lián),從數(shù)值上說(shuō)阻抗小于 100
姆用串聯(lián),大于 10 千歐用并聯(lián),阻抗大于 100 歐姆-10 千歐的,根據(jù)實(shí)際情況
(主要是指元器件的使用場(chǎng)合及使用要求)選擇。
9. 什么叫等效串聯(lián)電阻 Rs?等效并聯(lián)電阻 Rp?
答:任何一個(gè)被測(cè)元器件都可以等效為一個(gè)串聯(lián)電路或并聯(lián)電路,串聯(lián)電阻 Rs
為串聯(lián)等效電路中的電阻部分,Rs 也叫 ESR,并聯(lián)電阻 Rp 為并聯(lián)等效電路中的
電阻部分,Rp 也叫 EPR
10. 怎樣選擇測(cè)試速度?
答:一般來(lái)說(shuō),測(cè)試速度是以犧牲測(cè)試精度為代價(jià)的。速度越快,精度越差,
讀數(shù)穩(wěn)定性差,有效位數(shù)變少。如果要求測(cè)試精度,一般選擇慢速,要考慮測(cè)
試速度和測(cè)試精度就選擇中速。通常情況下,大多選擇中速檔位進(jìn)行測(cè)試。
11. 儀器為什么要進(jìn)行清零?
答:(1)由于儀器本身的漂移,會(huì)疊加一些雜散成份,如接觸電阻、電感、并
聯(lián)電容等,不清零就會(huì)有誤差。
   2)短路清零對(duì)小阻抗器件更為有效,開(kāi)路清零對(duì)高阻抗器件更有效。
12. 有些 LCR 數(shù)字電橋選配 GPIB 接口有什么作用?
答:這種功能大多出現(xiàn)在稍**的電橋上。主要是使設(shè)備通過(guò) GPIB 接口和電腦
相連,編寫相應(yīng)的軟件,可以實(shí)現(xiàn)用電腦控制儀器,進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量。對(duì)于一般
應(yīng)用而言,GPIB 接口功能可不必考慮。
13. 什么是負(fù)載校準(zhǔn),負(fù)載校準(zhǔn)應(yīng)注意哪些問(wèn)題?
答:負(fù)載校準(zhǔn)是一種的**的儀器校準(zhǔn)方法,可以使儀器在高于儀器原有準(zhǔn)確
度的基礎(chǔ)上測(cè)量元器件,主要用于下面兩種情況:
   1)當(dāng)有更準(zhǔn)確的元器件并需對(duì)同規(guī)格元器件進(jìn)行更高準(zhǔn)確度的測(cè)量。
   2)統(tǒng)一現(xiàn)場(chǎng)所有 LCR 數(shù)字電橋的測(cè)試數(shù)據(jù)。
14. 掃頻清零方式和點(diǎn)頻清零方式有何區(qū)別?
答:(1)掃頻一般針對(duì)實(shí)際測(cè)試頻率點(diǎn)比較多的被測(cè)元器件,點(diǎn)頻清零一般針
對(duì)只要一個(gè)頻點(diǎn)的被測(cè)元器件;
   2)掃頻清零耗時(shí)較長(zhǎng)。如同惠 TH2816A 電橋,無(wú)論短路清零,還是開(kāi)路
清零,均采用的是掃頻清零方式。
15. 測(cè)量的顯示范圍和精度范圍有何區(qū)別?
答:測(cè)量的顯示范圍一般大于測(cè)試設(shè)備所標(biāo)識(shí)的精度范圍。
16. 輸出阻抗不同對(duì)測(cè)試結(jié)果有什么影響?為什么有的儀器有 30Ω 100Ω
的內(nèi)阻選擇?
答:(1)儀器輸出阻抗不同,會(huì)導(dǎo)致被測(cè)元器件上施加的測(cè)試信號(hào)不同,*終
會(huì)導(dǎo)致顯示參數(shù)的差異和不同。
   2)測(cè)試時(shí),測(cè)試信號(hào)其實(shí)是被測(cè)件與儀器內(nèi)阻輸出阻抗串聯(lián)在一起,會(huì)
對(duì)信號(hào)產(chǎn)生分壓作用。因此,低阻抗測(cè)試實(shí)際加到被測(cè)器件上的電平小于設(shè)定
電平。30Ω兼容較老款式電橋,100Ω可與進(jìn)口(如 Agilent)儀器設(shè)備匹配。
17. 有些電橋的 P1\P2\P3 有何具體意義?
答:儀器的 P1\P2\P3 用于元器件的**品、二級(jí)品、三級(jí)品的等級(jí)分選。通常
情況下,**品的百分比極限小于二級(jí)品極限,二級(jí)品的百分比極限小于三級(jí)
品極限。
18. 同一電感在不同廠家的 LCR 儀器上用相同測(cè)試條件,為什么測(cè)試數(shù)據(jù)會(huì)
有很大差別?
答:(1)絕大多數(shù)電感都帶有鐵芯磁芯,而帶有鐵芯磁芯的電感對(duì)其施加的磁
場(chǎng)非常敏感,磁場(chǎng)與測(cè)試信號(hào)電流成正比,因此相同電平若內(nèi)阻不同,電流就
會(huì)不一樣,則結(jié)果有很大差別。這是客戶電感測(cè)試時(shí)遇到的普遍問(wèn)題。
   2)判定儀器測(cè)試電感的一致性原則,應(yīng)該是施加與被測(cè)件上的電流要一
致。但有一個(gè)特例需要注意,就是空心電感與磁場(chǎng)不在此例。
LCR數(shù)字電橋使用問(wèn)答
19. 為什么有時(shí)器件會(huì)顯示“-”?
: 1)過(guò)度清零或不適當(dāng)?shù)那辶?。?/span>2)受限于儀器的精準(zhǔn)度。
20. 增加測(cè)試線的長(zhǎng)度對(duì)測(cè)試有沒(méi)有影響?
答:有。一般 LCR 數(shù)字電橋出廠時(shí),采用 1 米長(zhǎng)的線進(jìn)行校準(zhǔn),如超過(guò) 1 米,
則需要重新校準(zhǔn)。
21. 儀器的自動(dòng)和保持有什么實(shí)際作用?
答:儀器的自動(dòng)檔位,一般用于未知大小的元器件的測(cè)試;而保持檔位,一般
用于大小已經(jīng)確定的元器件測(cè)試;保持功能可以提高儀器的測(cè)試效率,還可以
起到延長(zhǎng)儀器內(nèi)部繼電器的使用壽命的作用。
22. 電橋的串行軟件有何功能?
答:一些電橋設(shè)置有串行接口,供串行軟件和電腦連接使用,以便實(shí)現(xiàn)統(tǒng)計(jì)分
析或者自動(dòng)測(cè)試功能。
23. 儀器可以測(cè)貼片元器件嗎?
答:當(dāng)然可以,只要配置(大多是選配)專用 SMD 測(cè)試夾具就可以測(cè)試貼片元
器件了,SMD 測(cè)試夾具分為兩端口夾具和四端口夾具。
24. 直流偏置電流源在有些頻率下為何無(wú)法清零?
答:交流輸出阻抗頻響不一致,在某些頻率點(diǎn)可能產(chǎn)生諧振,因此,無(wú)法完全
清零。
25. 測(cè)試信號(hào)電平相關(guān)性是什么意思?
答:所有元器件均存在信號(hào)電平的相關(guān)性。即在規(guī)定測(cè)試頻率下,元器件數(shù)值
與信號(hào)電平的大小有關(guān)。有些元器件對(duì)電平的變化不敏感,而有些元器件對(duì)信
號(hào)電平具有極強(qiáng)的敏感性,如高 K(高介電常數(shù))值的陶瓷電容,高導(dǎo)磁率的電
感器等。因此,對(duì)此類器件規(guī)定其測(cè)量信號(hào)電平(電壓或電流)是非常重要的。
26. 測(cè)試時(shí),頻率設(shè)置越高越準(zhǔn)確嗎?
答:不是。測(cè)試時(shí),測(cè)試頻率高低選擇,取決于被測(cè)元器件本身,包括元器件
的使用場(chǎng)合。
 
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