具有多種元器件、材料特性分析能力：
揭示電感器件的多種特性
TH2828SLCR數(shù)字電橋 **的性能和20Hz—1MHz的測試頻寬可以**地分析磁性材料、電感器件的性能。使用TH10301選件的100mA DC的偏置電流可以**測量高頻電感器件、通訊變壓器、濾波器的小電流疊加性能。使用TH1775(TH1776)電流疊加裝置，可使偏置電流達(dá)40A以**分析高功率、大電流電感器件。
**的陶瓷電容器測量
1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征，同時(shí)其容量、損耗隨施加之交流信號會(huì)產(chǎn)生明顯的變化。TH2828SLCR數(shù)字電橋具有寬頻測試能力并可提供良好的準(zhǔn)確度和六位分辨率，自動(dòng)電平控制（ALC）功能等足以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準(zhǔn)確的測試需要。
液晶單元的電容特性測量
電壓-電容(C-VAC)特性是評價(jià)液晶材料性能的主要方法，常規(guī)儀器測量液晶單元的C-VAC特性遇到的一個(gè)問題是*大測試電壓不夠。使用TH10301選件可提供分辨率為1%及*高達(dá)20Vrms的可編程測試信號電平，使它能在*佳條件下進(jìn)行液晶材料的電容特性測量。
半導(dǎo)體材料和元件的測量
進(jìn)行MOS型半導(dǎo)體制造工藝評價(jià)時(shí)，需要氧化層電容和襯底雜質(zhì)密度這些參數(shù)，這些可從C-VDC特性的測量結(jié)果推倒出來。20Hz—1MHz的測量頻寬及高達(dá)40VDC的可編程偏置電壓可方便地完成C-VDC特性的測量。為了測試晶圓上的半導(dǎo)體器件，需要延伸電纜和探頭，TH2828SLCR數(shù)字電橋 的2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至*小。各種二極管、三機(jī)管、MOS管的分布電容也是本儀器的測試內(nèi)容。
適應(yīng)多種領(lǐng)域的測試需要：
新材料、新元件的研究開發(fā)
具有的0.05%/0.1%基本準(zhǔn)確度極大提高了測量的可信度。儀器提供的六位分辨率可以檢測元件參數(shù)的細(xì)微變化，尤其對低損耗元器件的測試具有良好的性能。
應(yīng)用廣泛的品質(zhì)檢驗(yàn)手段
TH2828S 自動(dòng)元件分析儀 具備的20Hz—1MHz的頻寬及5mVrms—20Vrms的信號電平范圍可滿足絕大多數(shù)元件的檢測需要。TH10301及TH1775(TH1776)的配置解決了直流偏置測量的要求。能滿足元器件徑向、軸向、SMD等多種形狀的測試夾具配置。
提高生產(chǎn)效率
TH2828/A/S 30ms的測試速度可滿足大多數(shù)生產(chǎn)場合高效測試的需要，從而提高生產(chǎn)廠的產(chǎn)能。內(nèi)建比較器、電纜長度補(bǔ)償、Handler接口可方便地用于自動(dòng)測試系統(tǒng)。內(nèi)建存儲(chǔ)器及USB外存裝置可大大減小操作時(shí)間并降低操作錯(cuò)誤。
具有友好的用戶操作界面：
簡化的前面板操作
儀器配置的320×240點(diǎn)陣LCD顯示器使操作者可清晰地觀察測量結(jié)果，各種設(shè)定狀態(tài)一目了然，交互式軟鍵大大簡化了儀器操作。
非易失性存儲(chǔ)器以保存多種儀器設(shè)置
提供有內(nèi)部非易失性存儲(chǔ)器可保存20組儀器測量設(shè)置，TH2828S還具有外部USB存儲(chǔ)卡進(jìn)行數(shù)據(jù)保存及多臺儀器統(tǒng)一進(jìn)行數(shù)據(jù)設(shè)置/調(diào)用。這將大大減少參數(shù)的設(shè)置錯(cuò)誤并提高用戶的使用效率。
強(qiáng)大的器件分析能力
具備對器件進(jìn)行多種特性的圖形分析能力。如對壓電器件的諧振特性分析，磁性元件的偏流特性分析，變?nèi)荻O管的偏壓特性分析，液晶材料的交流電壓特性分析。同時(shí)可以為用戶提供專用的分析軟件以獲得元件更多所關(guān)心的特性，并提高測試效率。
靈活的數(shù)據(jù)通訊方式
TH2828系列提供有GPIB并行通訊（TH2828A為選件）接口，為多機(jī)通訊并組成自動(dòng)測試系統(tǒng)提供了可能，同時(shí)，儀器還提供了低成本的RS232C串行通訊方式以方便地與計(jì)算機(jī)進(jìn)行遠(yuǎn)程通訊。
